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如何检测大功率可控硅的性能好坏
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meipingboy
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发表于: 2015-06-22 10:09
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一台直流驱动器,冷却风扇如果坏了,而设备还是在继续工作,驱动器没报警功能,驱动器上的可控硅模块性能会变差吗?
是性能变差,不是直接损坏。
我公司有一台设备,连续二次可控硅损坏,后来全部换新后,正常工作三天后,又出现问题其它不稳定的问题,后来才发现散热风扇不转。现在问题是不能确定这些模块,在没有散热风扇工作的情况下,工作了三天,会影响到可控硅模块性能吗?
还有,如何检测这些模块的性能?
请碰到过这种性况的朋友指导一下,先谢谢了。
活到老学到老:还有 8 分没学到
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jemslin
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1楼
发表于: 2015-06-24 22:56
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引用第5楼meipingboy于2015-06-23 13:56发表的 :
现在问题是有变化的
全新的可控硅,阴极跟控制极电阻 小于 使用过的电阻 2到3欧姆。使用过的在19到21之间。
可控硅的好壞不是這樣量的,取一指針式三用電錶擺在電阻擋Rx1紅棒擺在陰極黑棒擺在陽極然後用黑棒的電位去碰觸控制極。這時要導通放開控制極一樣要導通,黑棒放開斷路。若是這樣屬於好的,若是不觸發控制極就導通那就壞掉了。半導體的標準工作溫度是25度C他有一個溫升曲線溫度越高效率越低升到100度C的時候效率幾乎等於零。等冷卻了效率才會回升。
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