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    随着电子产业的不断飞速发展，与之相关的新型检测技术也在不断地涌现出来。常规的无损分析往往只能获得线路板表面的信息，难以提供完整的内部信息。X射线检测仪作为新兴的分析手段，可以实现在不破坏样品的前提下，检测出不可见缺陷，反映样品的内部信息。

    随着消费电子和工业互联网的蓬勃发展，对于硬件支撑的电子技术提出了更高的要求，封装的小型化和组装的高密度化以及功能集成化的新型器件是现在电子技术的新方向；并且工艺质量的要求也由此越来越高。于是对检查的方法和技术提出了更高的要求。

    为满足这一要求， X-Ray检测技术作为行业的典型代表，它不仅可对不可见焊点进行检测(如BGA等)，还可对检测结果进行定性、定量分析，以便及早发现故障，降低废品率。